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Lebensdauer Tranistor

14/04/2012 - 11:00 von Albrecht Mehl | Report spam
Dreifaches Gedankenexperiment mit einem beliebigen Standardtransistor:

1. durch àußere Beschaltung so eingestellt, dass durch den Transistor
ein konstanter Kollektorstrom innerhalb der Spezifikationen fließt.
2. Transistor gesperrt
3. Transistor mit gleichem Kollektorstrom wie in 1., diesmal jedoch
mit hoher Frequenz - innerhalb der Spezifikationen - zwischen
Durchlassen und Sperrung wechselnd.

Noch einmal: die Transistoren werden in gehörigem Abstand von den
Grenzen ihrer Spezifikationen betrieben.

Die drei Versuche werden z.B. mit je 10 000 Transistoren parallel
wàhrend je zehn Jahren durchgeführt.

Unterscheiden sich die Ausfallraten je nach den Versuchsbedingungen,
oder sind die Beanspruchungen auf die Transistoren in allen drei
Fàllen gleich?

A. Mehl
Albrecht Mehl |eBriefe an:mehlBEIfreundePUNKTtu-darmstadtPUNKTde
Veilchenweg 7 |Tel. (06151) 37 39 92
D-64291 Darmstadt, Germany|sehenswert - ungefàhr 'Wir einsam im All'
http://www.phrenopolis.com/perspect...index.html
 

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#1 Rafael Deliano
14/04/2012 - 12:56 | Warnen spam
Gedankenexperiment ... Ausfallraten



Die sind praktisch recht sinnfrei.

Aber wers nicht lassen kann: MIL-HDBK-217 ist ja
als download im www verfügbar. Da kann man sich unter
unter verschiedenen Bedienung geschàtzte MTBFs ausrechnen.

Im Fall 1 würde man unter Annahme nennenswerter
Temperaturerhöhung a la Arrhenius ein Beschleunigung
chemischer Zersetzungs/Alterungsprozesse erwarten.

Im Fall 2 wàre das nicht der Fall. Jedoch würde man dann
bei einem Plastikgehàuse erwarten daß Feuchtigkeit
eindringt und das Bauteil erledigt. Soweit es nicht
weiteren Schutz hat ( "glassivation" u.à. ).

Fall 3 wàre relativ klar gefàhrlich wenn der
Ein/Ausschaltzyklus langsam wàre. Bei nennenswerter
Temperaturerhöhung ergàbe sich mechanische Belastung
des Halbleiters. Vgl Temperaturzyklen.

MfG JRD

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