Wackelkontakte / schlechte Kontakte mit Übergangswiderstands-Messungen charakterisierbar?

30/06/2008 - 20:14 von Moritz ErbsIöh | Report spam
Hallo DSIE,

Ich messe mit einem AVR uC Übergangswiderstànde von Kabeln, um Defekte
zu erkennen (die meißt an Lötstellen einzelner Adern auftreten), dazu
kann ich verschiedene Ströme (100uA - 10mA) durch eine
Pin-Pin-Verbindung schicken, und den Spannungsabfall mit ADC über
mehrere Samples zu ermitteln.

Bei Wackelkontakten ist die Erkennung von Fehlerstellen aber bisher nur
möglich, wenn das DUT-Kabel wàhrend der in einer Programmschleife von
~100ms ablaufenden Prüfung aller Kabel-Adern hin und her bewegt wird,
bis der Wackelkontakt zu großen Übergangswiderstand zeigt. Problem dabei
ist auch, dass vermutlich durch triboelektrische Effekte die Messungen
unsauber werden und eine Auswertung schwierig machen.

Es wàre daher sehr komfortabel, wenn sich diese Fehlerstellen ohne
Bewegungen am Kabel identifizieren ließen. Gibt es Möglichkeiten,
vielleicht über Nichtlinearitàten derartige schlechte Kontakte je nach
Fehlerursache (z.b. kalte oder mechanisch beanspruchte Lötstellen, nur
noch "aufliegende" Kontakte abgerissener Aderlitzen) zu charakterisieren?

Ich wàre auch über Hinweise zu passender Literatur, AN's oder sonstigen
Quellen die Eigenschaften, Fehlverhalten und Charakterisierbarkeit von
Löt- und Quetschverbindungen ausführlicher Untersuchen sehr glücklich.

Ich danke euch für alle Hinweise/Tips!

Gruß,
Moritz
 

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#1 Moritz ErbsIöh
05/07/2008 - 01:20 | Warnen spam
Weiß wirklich niemand etwas zu dem Thema? Ist es zu speziell?

Gruß Moritz

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